摘要：本發明提供一種發光二極管的光電參數分組測試方法，其特征在于：一個芯片的完整光電參數組中，一部分光電參數是使用本芯片的光電參數，另外一部分光電參數是使用在晶圓位置上與本芯片相鄰或相近芯片的光電參數。本發明的優點在于：按照本發明的LED芯片測試方法，不需要完整的測試每一顆LED芯片的光電參數，簡化LED的芯片測試。并且每一顆芯片的光電參數在其周圍芯片的光電參數中都有體現。
- 專利類型發明專利
- 申請人華燦光電股份有限公司;
- 發明人張建寶;宋超;
- 地址430223 湖北省武漢市東湖新技術開發區濱湖路8號
- 申請號CN201110258720.4
- 申請時間2011年09月02日
- 申請公布號CN102280395A
- 申請公布時間2011年12月14日
- 分類號H01L21/66(2006.01)I;H01L33/00(2010.01)I;
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