摘要：一種測量亞微米至納米粒度段粒度分布的激光粒度儀，包括激光光源裝置、樣品測試窗口3、散射信號接收裝置4及與之電連接的信號處理系統5，激光光源裝置包括第一激光器1和第二激光器2；散射信號接收裝置是由14組光電探測器按照一定的規律排列，可以接收來自樣品測試窗口中心固定角度的散射信號，該系統可以將來自樣品測試窗口中心15°~130°的散射信號完整的接收并傳輸至計算機，計算機根據MIE散射理論可以計算出量程在0.05μm~1μm范圍內所測樣品的粒度分布圖。
- 專利類型實用新型
- 申請人濟南微納顆粒儀器股份有限公司;
- 發明人任中京;于代軍;
- 地址250000 山東省濟南市高新區大學科技園北區F座東二單元
- 申請號CN201420378380.8
- 申請時間2014年07月09日
- 申請公布號CN204086079U
- 申請公布時間2015年01月07日
- 分類號G01N15/02(2006.01)I;
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