摘要：本發明提供一種用于光子相關納米粒度儀的數字相關器，是一種基于動態光散射原理測試納米及亞微米顆粒粒度測試技術中用于獲取散射光信號自相關函數和互相關函數的數字相關器，其結構包括固化在FPGA中的采樣時間設置模塊、光子計數模塊、相關運算模塊、USB通訊模塊和同步復位模塊，上述光子計數模塊均與采樣時間設置模塊相連接，光子計數模塊又與相關運算模塊的信號輸入端相連接，相關運算模塊的信號輸出端與USB通訊模塊相連接，同步復位模塊與光子計數模塊、相關運算模塊和USB通訊模塊相連接。本發明實現了光子脈沖計數、自相關運算、互相關運算以及與計算機通訊的功能，具有采樣速度快、延遲時間范圍廣、相關通道多的特點，完全滿足納米顆粒粒度測試中獲取高速變化的動態散射光信號的自相關函數和互相關函數的高難度需求。
- 專利類型發明專利
- 申請人濟南微納顆粒儀器股份有限公司;
- 發明人任中京;陳棟章;
- 地址250100 山東省濟南市高新區大學科技園北區F座東2單元
- 申請號CN201010533183.5
- 申請時間2010年11月05日
- 申請公布號CN102033032B
- 申請公布時間2012年09月05日
- 分類號G01N15/02(2006.01)I;G01N15/10(2006.01)I;
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