摘要：本實用新型提供一種帶有輔助探測結構的噴霧激光粒度儀，屬于粒度分析儀器領域，其結構包括由激光器、擴束鏡、準直透鏡、傅立葉透鏡和環形陣列探測器組成的主光路，其創新點是在傅立葉透鏡的一側設置有柱面透鏡，柱面透鏡的焦面上設置有條形陣列探測器，上述柱面透鏡和條形陣列探測器組成輔助光路，且輔助光路的光軸與主光路的光軸相平行，柱面透鏡的子午面與兩光軸共面，輔助光路的光軸與主光路的光軸距離可調。本實用新型既不改變原有儀器結構，也不增加現有儀器體積，只須在原傅立葉鏡頭下方開一條縫隙即可方便安裝；不僅擴大了測量范圍，將噴霧激光粒度儀的測試下限由5微米延伸到1微米，而且測試區域可以調節，特別適用于分體式噴霧激光粒度儀的測試范圍擴展。
- 專利類型實用新型
- 申請人濟南微納顆粒儀器股份有限公司;
- 發明人任中京;陳棟章;
- 地址250100 山東省濟南市高新區大學科技園北區F座東2單元
- 申請號CN201120267648.7
- 申請時間2011年07月26日
- 申請公布號CN202166590U
- 申請公布時間2012年03月14日
- 分類號G01N15/02(2006.01)I;
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