摘要：本發明公開了一種三角波激勵磁場下磁性納米粒子粒徑分布測量系統及方法，屬于納米測試技術領域。本發明在準確測量三角波激勵磁場和磁性納米粒子磁化強度信號的基礎上，得到磁性納米粒子的磁化曲線。再將磁化曲線在Matlab最優化工具箱中進行擬合，最終得到磁性納米粒子的粒徑分布。磁性納米粒子的磁化曲線可以在實驗裝置上獲取，不需要借助其他外部磁場測量設備,測量成本低。利用全局搜索等優化算法可以從磁化曲線中準確地提取出粒徑分布，不需要借助磁性納米粒子的其他特性，測量過程快速簡易。本發明的測量方法不僅對單一粒徑分布的磁性納米粒子適用，對存在二聚體的磁性納米粒子也同樣適用。
- 專利類型發明專利
- 申請人華中科技大學;
- 發明人蔣玲;劉文中;馬利;程文祥;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區珞喻路1037號
- 申請號CN201510197371.8
- 申請時間2015年04月24日
- 申請公布號CN104865170A
- 申請公布時間2015年08月26日
- 分類號G01N15/02(2006.01)I;
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