摘要：本實用新型提供一種靜態光散射納米顆粒粒度測量裝置，屬于粒度分析儀器領域，其結構包括激光器、流動樣品池、柱面透鏡、條形陣列光電探測器，流動樣品池為四面透光的空心矩形立方體，激光器位于流動樣品池的窄透光面一側，柱面透鏡附著在流動樣品池的寬透光面上，條形陣列光電探測器位于柱面透鏡的焦平面上，且柱面透鏡和條形陣列光電探測器組成的探測系統的光軸與激光束互相垂直，在同一個子午平面內。本實用新型的特點是專門探測顆粒的前側向和后側向散射光的能量分布，因此適用于靜態光散射納米顆粒粒度分析。測試散射光范圍45度至135度?？蓽y量的粒度范圍為10納米至5000納米。
- 專利類型實用新型
- 申請人濟南微納顆粒儀器股份有限公司;
- 發明人任中京;于代君;
- 地址250100 山東省濟南市高新區大學科技園北區F座東2單元
- 申請號CN201120267652.3
- 申請時間2011年07月26日
- 申請公布號CN202281738U
- 申請公布時間2012年06月20日
- 分類號G01N15/02(2006.01)I;
教育裝備采購網在線客服
京公網安備11010802043465號
