摘要：單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置，包括一用于發射激光的激光器1，激光器1的后端按照激光光路的前進方向依次設置有擴束鏡2、傅里葉透鏡4、用于改變激光光路方向的光學組件、光電探測器陣列10，一樣品窗6，所述傅里葉透鏡4和光學組件之間設有第一工位12，所述光學組件和光電探測器陣列10之間設有第二工位9，所述樣品窗6在所述第一工位12和第二工位9之間相對移動。本實用新型的有益效果為：采用折疊光路，可移動樣品窗，實現了對樣品的二次測試，擴大了儀器測量范圍,光路長度縮短為原長的1/2。大大減小了儀器體積，提高了儀器測量精度，為激光粒度儀的廣泛普及提供了一種全新最優化的結構。
- 專利類型實用新型
- 申請人濟南微納顆粒儀器股份有限公司;
- 發明人任中京;陳棟章;
- 地址250000 山東省濟南市高新區大學科技園北區F座東二單元
- 申請號CN201320483270.3
- 申請時間2013年08月08日
- 申請公布號CN203365279U
- 申請公布時間2013年12月25日
- 分類號G01N15/02(2006.01)I;
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