摘要：一種基于MIE散射理論的激光粒度儀，包括激光器，激光器的后端按照激光光路的前進方向依次設置有傅里葉變換鏡頭、樣品測試窗口、光電陣列探測器，還包括輔助光電探測器5，所述輔助光電探測器5設置在所述樣品測試窗口3與所述光電陣列探測器4之間并與激光光路主軸平行。本實用新型是基于MIE散射理論的激光粒度儀，代替以往的由半導體或氣體激光器、擴束鏡、空間濾波器組成光源系統的激光粒度儀，克服了以往光路調試對擴束鏡及空間濾波器性能要求過高但同時又很難滿足的問題。
- 專利類型實用新型
- 申請人濟南微納顆粒儀器股份有限公司;
- 發明人任中京;于代君;
- 地址250000 山東省濟南市高新區大學科技園北區F座東二單元
- 申請號CN201320812021.4
- 申請時間2013年12月11日
- 申請公布號CN203587476U
- 申請公布時間2014年05月07日
- 分類號G01N15/02(2006.01)I;
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