摘要：本發明公開了一種全自動光學測厚儀，其結構如下：模擬信號采集裝置的信號輸出端與模擬信號預處理電路的信號輸入端連接，模擬信號預處理電路的信號輸出端與A/D轉換電路的信號輸入端連接，A/D轉換電路的信號輸出端與中央處理器的折射/透射率數據信號輸入端連接，中央處理器的視頻信號輸出端與顯示器的信號輸入端連接。本發明還公開了一種全自動光學測厚儀的折射/透射率數據處理方法，包括以下步驟：輸入包含一位小數位的折射/透射率數據；中值濾波；提取有效折射/透射率的小數位；小數位處理；判斷是否出現極值；顯示折射/透射率值、折射/透射率趨勢線和極值數量；循環執行。通過本發明測量厚度，測量準確、數據精確，結果穩定、可靠。
- 專利類型發明專利
- 申請人成都中科唯實儀器有限責任公司;
- 發明人許鏡明;張鵬;張蜀曉;嚴家榮;陳啟祿;唐成;
- 地址610000 四川省成都市高新區科園南一路七號
- 申請號CN201110401682.3
- 申請時間2011年12月06日
- 申請公布號CN102494620A
- 申請公布時間2012年06月13日
- 分類號G01B11/06(2006.01)I;
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