摘要：本發明公開了光學透鏡中心厚度測量系統及方法，該系統包括光源，所述光源連接有分光裝置，分光裝置和光學探頭正對且中心位于同一軸上，所述分光裝置的一端還連接有光譜儀，光譜儀連接到計算機上。該方法為：光源發出的多色光經過分光裝置進行光線耦合后進入光學探頭；經過光學探頭的多色光射到被測零件上發生反射、折射；反射回探頭的光通過分光裝置后進入到光譜儀；光譜儀根據返回光的能量分析得出不同波長光的能量曲線圖；將所得的數據傳輸給計算機，通過公式進行計算得出透鏡中心厚度，并顯示出來。本發明在測量時簡單便捷、數據精準，且非接觸的測量方法不會損壞零件，作為光學透鏡中心厚度測量系統及方法廣泛運用于光學零件的精密測量。
- 專利類型發明專利
- 申請人廣州標旗電子科技有限公司;
- 發明人宋光均;吳劍峰;鄭祥利;
- 地址510640 廣東省廣州市天河區金穎路1號金穎大廈1711室
- 申請號CN201110405930.1
- 申請時間2011年12月08日
- 申請公布號CN102435146A
- 申請公布時間2012年05月02日
- 分類號G01B11/06(2006.01)I;
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