摘要：本發明涉及一種通過半導體分立器件特性曲線跟蹤儀器。半導體分立器件特性曲線跟蹤裝置，由上位機、測試主機、擴展臺、治具四部分組成，所述測試主機里包含下位機、機械手/探針臺驅動模塊、總線轉換模塊、數據總線模塊、AD/DA轉換模塊、功率放大器、繼電器陣列，所述的下位機里裝有自檢、自校準程序，所述的擴展臺擴展所述功率放大器，采用16位并行AD/DA轉換模塊設計，測試速度快，精度高；采用下位機控制，實現脫機運行；采用多級開爾文技術，系統穩定性高，測試結果準確；完整的自檢/自校準能力；采用上位機顯示，直觀，好操作；可以連接機械手或探針臺，效率高；數據存儲在PC機里，讀寫方便。
- 專利類型發明專利
- 申請人西安誼邦電子科技有限公司;
- 發明人李耀武;
- 地址710075 陜西省西安市雁塔區太白南路191號崇立金世園第1幢012902室
- 申請號CN201310585083.0
- 申請時間2013年11月20日
- 申請公布號CN104655998A
- 申請公布時間2015年05月27日
- 分類號G01R31/26(2014.01)I;
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