摘要：本發明提供一種半導體激光器測試裝置、系統和方法，通過利用電壓傳感器、電流傳感器、功率傳感器和溫度傳感器分別測量半導體激光器的輸入電壓、輸入電流、輸入功率和工作溫度，然后利用數據采集電路對測量得到的輸入電壓、輸入電流、輸入功率和工作溫度進行數據采集得到輸入電壓、輸入電流、輸入功率和工作溫度的變化曲線，由于采用了對半導體激光器的多種參量進行測量，獲得輸入電壓、輸入電流、輸入功率和工作溫度的變化曲線的方式，不僅能夠根據輸入電壓、輸入電流、輸入功率和工作溫度的變化曲線直觀反映半導體激光器工作狀態的穩定性，而且提高了測試的準確性。
- 專利類型發明專利
- 申請人北京光電技術研究所;
- 發明人張麗雯;陸耀東;高和平;任奕奕;宋金鵬;
- 地址100010 北京市東城區東皇城根北街甲20號
- 申請號CN201410354468.0
- 申請時間2014年07月23日
- 申請公布號CN104237762A
- 申請公布時間2014年12月24日
- 分類號G01R31/26(2014.01)I;G01R31/00(2006.01)I;
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