摘要：本發明提供一種半導體激光器離線測試方法，各待測試半導體激光器與各測試裝置一一對應安裝在測試平臺上，所述各測試裝置中分別包含電源模塊，以對各測試裝置供電，各測試裝置通過數據總線與控制主機電連接，該方法包括：測試裝置接收控制主機發送的包括各待測試參數的測試指令；測試裝置斷開與控制主機間的電連接，并控制分別與各待測試參數對應的傳感器對待測試半導體激光器的各待測試參數分別進行參數數據采集；測試裝置對采集到的參數數據進行數據處理，并存儲處理結果；測試裝置測試完成后斷開與半導體激光器的連接，并將處理結果發送給控制主機，以實現對各半導體激光器工作參數的離線測試。
- 專利類型發明專利
- 申請人北京光電技術研究所;
- 發明人張麗雯;陸耀東;王濤;任奕奕;宋金鵬;張玉瑩;
- 地址100010 北京市東城區東皇城根北街甲20號
- 申請號CN201510251356.7
- 申請時間2015年05月15日
- 申請公布號CN104880659A
- 申請公布時間2015年09月02日
- 分類號G01R31/26(2014.01)I;G01M11/00(2006.01)I;
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