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          半導體分立器件測試系統信號發生及采樣處理裝置

            摘要:一種半導體分立器件測試系統信號發生及采樣處理裝置,總線板上連有高低源板、所有板開關和繼電器板,總線板通過模數轉換器與IO口擴展芯片相連,IO口擴展芯片通過計數器與存儲器相連,存儲器通過數模轉換器輸出正弦波與總線板相連,IO口擴展芯片通過數模轉換器與跟隨器相連,跟隨器與總線板相連,IO口擴展芯片還通過總線收發器接收總線數據,總線收發器將總線數據送到高低源板處理,模擬板上出來的信號控制開關量,并將其送到數模轉換器產生正弦波信號,繼電器板采集的信號送到模擬板上轉換處理,具有脫機運行,速度快,精度高的特點。
          • 專利類型實用新型
          • 申請人西安誼邦電子科技有限公司;
          • 發明人薛亮平;李耀武;楊煒光;
          • 地址710065 陜西省西安市雁塔區太白南路263號1幢2216室
          • 申請號CN201020642963.9
          • 申請時間2010年12月01日
          • 申請公布號CN201984137U
          • 申請公布時間2011年09月21日
          • 分類號G01R31/26(2006.01)I;G01R1/28(2006.01)I;
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