摘要：本發明提供一種芯片故障定位方法、裝置及系統。本發明芯片故障定位方法，包括：在調試模式下獲取調試指令并執行；在測試模式下獲取掃描鏈模式指令；根據所述掃描鏈模式指令控制芯片的觸發器形成掃描鏈；在所述測試模式下獲取測試數據；將所述測試數據輸入掃描鏈中，依次移出所述掃描鏈中觸發器的值；根據移出的觸發器的值定位芯片故障位置。本發明提高了故障定位的效率以及準確度。
- 專利類型發明專利
- 申請人龍芯中科技術有限公司;
- 發明人陳華軍;齊子初;
- 地址100190 北京市海淀區中關村科學院南路10號
- 申請號CN201310717666.4
- 申請時間2013年12月23日
- 申請公布號CN103675641A
- 申請公布時間2014年03月26日
- 分類號G01R31/26(2014.01)I;
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