摘要：一種LED溫控特性測試裝置，底板上設有外殼，外殼的腔體內設有支架，支架下設有風扇，支架上設有半導體制冷片，半導體制冷片上面設有銅模，銅模周側設有保溫層，銅模壁體內設有銅模體溫度探頭，銅模腔體內設有LED支架，LED支架上設有LED和銅模腔溫度探頭。實驗操作時，經電氣連接部上的若干電氣連接頭連接到各種實驗儀表上，開啟LED和半導體制冷片制熱模式給銅模加熱，通過實驗儀表記錄銅模溫度和銅模腔體溫度，同時觀測LED隨溫度升高以及在一定溫度下的發光性能；然后切換半導體制冷片為制冷模式給銅模制冷，通過實驗儀表記錄銅模溫度和銅模腔體溫度，同時觀測LED隨溫度降低以及在一定溫度下的發光性能。
- 專利類型實用新型
- 申請人杭州大華儀器制造有限公司;徐州工程學院;
- 發明人滕道祥;王震;覃愛民;陳鑼萍;
- 地址311401 浙江省杭州市富陽市東山路23號
- 申請號CN201220040710.3
- 申請時間2012年02月08日
- 申請公布號CN202453463U
- 申請公布時間2012年09月26日
- 分類號G01R31/26(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I;G09B23/18(2006.01)I;
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