<acronym id="pokdi"><strong id="pokdi"></strong></acronym>
      <acronym id="pokdi"><label id="pokdi"><xmp id="pokdi"></xmp></label></acronym>

      <td id="pokdi"><ruby id="pokdi"></ruby></td>
      <td id="pokdi"><option id="pokdi"></option></td>
      <td id="pokdi"></td>

        1. 首頁
        2. 裝備資訊
        3. 熱點專題
        4. 人物訪談
        5. 政府采購
        6. 產品庫
        7. 求購庫
        8. 企業庫
        9. 品牌排行
        10. 院校庫
        11. 案例·技術
        12. 會展信息
        13. 教育裝備采購網首頁 > 知識產權 > 專利 > CN202453463U

          LED溫控特性測試裝置

            摘要:一種LED溫控特性測試裝置,底板上設有外殼,外殼的腔體內設有支架,支架下設有風扇,支架上設有半導體制冷片,半導體制冷片上面設有銅模,銅模周側設有保溫層,銅模壁體內設有銅模體溫度探頭,銅模腔體內設有LED支架,LED支架上設有LED和銅模腔溫度探頭。實驗操作時,經電氣連接部上的若干電氣連接頭連接到各種實驗儀表上,開啟LED和半導體制冷片制熱模式給銅模加熱,通過實驗儀表記錄銅模溫度和銅模腔體溫度,同時觀測LED隨溫度升高以及在一定溫度下的發光性能;然后切換半導體制冷片為制冷模式給銅模制冷,通過實驗儀表記錄銅模溫度和銅模腔體溫度,同時觀測LED隨溫度降低以及在一定溫度下的發光性能。
          • 專利類型實用新型
          • 申請人杭州大華儀器制造有限公司;徐州工程學院;
          • 發明人滕道祥;王震;覃愛民;陳鑼萍;
          • 地址311401 浙江省杭州市富陽市東山路23號
          • 申請號CN201220040710.3
          • 申請時間2012年02月08日
          • 申請公布號CN202453463U
          • 申請公布時間2012年09月26日
          • 分類號G01R31/26(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I;G09B23/18(2006.01)I;
          99久久国产自偷自偷免费一区|91久久精品无码一区|国语自产精品视频在线区|伊人久久大香线蕉av综合

            <acronym id="pokdi"><strong id="pokdi"></strong></acronym>
              <acronym id="pokdi"><label id="pokdi"><xmp id="pokdi"></xmp></label></acronym>

              <td id="pokdi"><ruby id="pokdi"></ruby></td>
              <td id="pokdi"><option id="pokdi"></option></td>
              <td id="pokdi"></td>