·XEMIS 磁懸浮天平（Magnetic Suspension Balance）使用Hiden 獨特的外部感知技術(Exosensing Technology)，把敏感組件置于天平室外部
·用于腐蝕性氣體測量時與其它磁懸浮天平所測試的氣體和蒸氣兼容
·操作壓力是200bar，可在77–773K的全溫度范圍內操作
·獨特設計的微量天平橫梁安置在由金屬VCR密封的低容室內
·對稱設計的流量和浮力補償
設計理念
這款精密設計的XEMIS 幾乎在所有條件下都能進行相當精確、穩定的測量，即使在高溫和高壓條件下也不例外。此微量天平使用了Hiden Isochema的外部感知技術(Exosensing Technology)，所有的敏感元件都放置于天平室外部，以防止對天平的污染或腐蝕。微量天平橫梁是磁力懸浮的，通過外部驅動(exodrive)和外部感知(exosensor)控制。把這些組件轉移到天平室外部，使得內部體積小化，減少了氣體消耗。
為了消除外部磁場的影響，這些外部傳感器、外部驅動和微量天平橫梁周圍都有高導磁率的屏蔽，以消除外部磁場的干擾。微量天平室和控制裝置都被安置在精確調節熱量的防護殼中，消除外部溫度波動的影響，以保持系統穩定。同IGA的設計一樣，這對于高精度重力測量是必不可少的。
XEMIS天平是幾何對稱的，在高溫高壓時能夠補償浮力和流動力。這種設計的好處是無需重新校準或重新歸零，同時微量天平一直很穩定，使得產生的相對誤差極小，長期穩定性優于±5μG。
XEMIS微量天平的設計，本質上就比其他的磁懸浮天平設計更穩定。這意味著在進行精確測量時，XEMIS在長時間的測量過程中，具有良好的長期穩定性。
普通的磁懸浮天平一般有一個磁鐵連接到樣品架，然后再用電磁鐵懸浮。磁鐵引入了較大的浮力，因此存在更大的潛在誤差。例如，為了滿足高壓測量，樣品的尺寸就要更大一些。傳統的磁懸浮天平設計在測量尺度上也存在明顯的的漂移。要解決這個問題，天平就要定期重新機械調零，這個過程非常耗時，在吸附測量過程無法獲得動力學數據。與此不同的是，XEMIS微量天平優異的長期穩定性意味著它的測量過程是連續的。
升級
XEMIS可作為一個獨立的天平使用，它包含Hiden Isochema控制軟件，能記錄動力學數據與吸附性能，也可以與客戶現有的氣體輸送系統聯用。
Hiden也可以為XEMIS提供用于吸附研究的自動化氣體輸送系統，這樣XEMIS就可以做為全自動吸附儀使用。如果配置了Hiden的氣體輸送系統，XEMIS就能實現完全自動的可編程操作，包括氣體入口之間的自動轉換。在一個溫度范圍內，可以對不同的吸附物進行多個等溫線編程和自動測量。
XEMIS通過與IMI高壓容積法吸附儀系統的結合，能夠適應特殊的應用，可量身定做出客戶需要的重量/體積吸附解決方案。
