北京英格海德分析技術有限公司

所有產品

產品總數：5

IFG200 FAB/離子槍

簡介:HidenIFG200快速原子轟擊/離子槍（FAB/IonGun）是采用技術的FAB/離子槍，進行靜態、動態SIMS研究，表面和深度分析。應用：靜態、動態SIMS研究俄歇電子波譜離子束濺射絕緣體的FAB/SIMS研究表面科學研究光柵/深度分析特點：2mm原子或離子束，當能量從0.5～5keV.FAB研究中，電荷交換室...

￥0

品牌：Hiden Analytical 圍觀：1022次 產地：北京 產品詳情

IG20 離子槍

簡介:HidenIG20離子槍（IonGun），先進的離子槍，配合SIMS進行材料表面和深度的分析。應用：靜態、動態SIMS俄歇電子譜離子束濺射表面科學研究光柵/深度分析特點：具有100m光斑直徑的、0.5～5keV能量的強離子束高電流密度4.5mA/cm2電子轟擊離子源具有氬和氧離子能力掃描線散射和離子束光...

￥0

品牌：Hiden Analytical 圍觀：1315次 產地：北京 產品詳情

3F/IDP 離子脫附分析質譜

簡介:HidenIDP(IonDesorptionProbe)離子脫附分析探針用于研究ESD,PSDorUHV-TPD研究中釋放出的低能量核素。IDP是電子、光子激發脫附研究中，進行離子、中性粒子、自由基的質量、能量分析的三級過濾四極質譜儀。應用：釋出組分的快速質量、能量監測選通輸入分析，進行瞬時/TOF研究用表觀M...

￥0

品牌：Hiden Analytical 圍觀：765次 產地：北京 產品詳情

二次離子質譜工作站

簡介:HidenSIMS工作站(SIMSWorkstation－acompleteSIMSAnalysisFacility)，綜合UHV/SIMS設備，進行的表面分析?？煽康?、普遍適用的SIMS分析工作站。應用：各類型樣品的快速轉向靜態、動態SIMS整合的離子源，便于RGA和SNMS表面改性/光柵研究SIMS表面繪圖/成像表面污染物分析特點：HidenE...

￥0

品牌：Hiden Analytical 圍觀：817次 產地：北京 產品詳情

二次離子質譜

簡介:二次離子質譜SIMS-SecondaryIonMassSpectrometer儀器介紹EQS是差式泵式二次離子質譜（SIMS-SecondaryIonMassSpectrometerBolt-Onprobe），可分析來自固體樣品的二次陰、陽離子和中性粒子。采用技術的SIMS探針，便于連結到現有的UHV表面科學研究反應室。主要特點高靈敏度脈沖離子計...

￥0

圍觀：2564次 產地：北京 產品詳情