摘要：一種標線測量儀包括底座、光源、反射鏡以及光探測器，所述底座包括用于固定所述光源的第一支撐部和用于固定反射鏡的第二支撐部，所述第一支撐部與所述第二支撐平行設置并形成一過光間隙，所述第一支撐部形成一開孔，所述開孔的開口方向朝下設置，所述過光間隙與所述開孔連通，所述光源包括發光裝置和半透半反射鏡，所述光探測器位于所述半透半反射鏡的上方，利用發光裝置發射光來模擬日光，然后通過半透半反射鏡把光聚集并形成光路發射出去，當光路走到反射鏡時，把光反射到過光間隙處，把開孔放在待測路標上，形成反射光路，按原光路返回，半透半反射鏡把光在反射到光探測器上，測得光功率，得出結果，實現對光的測量功能。
- 專利類型實用新型
- 申請人北京中交工程儀器研究所;
- 發明人楊宗文;田曉辰;吳會杰;高建濤;
- 地址100000 北京市大興區黃村鎮劉一村委會西500米
- 申請號CN201620040280.3
- 申請時間2016年01月15日
- 申請公布號CN205483495U
- 申請公布時間2016年08月17日
- 分類號G01M11/02(2006.01)I;
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