摘要：發明提供的一種λ/2電壓電光開關的動態透過率的測試系統和測試方法，所述測試系統包括激光光源、起偏器、檢偏器、偏振分光裝置、λ/2波片、擴束裝置、示波器和數據處理模塊；在使用所述測試系統時，λ/2電壓電光開關放置在起偏器和檢偏器之間，示波器的波形探頭沿著檢偏器的出射光方向放置。本發明提供的測試系統和測試方法能減少由激光光源脈沖能量起伏引起的誤差，可以測量各種口徑的λ/2電壓電光開關的動態透過率。
- 專利類型發明專利
- 申請人北京國科世紀激光技術有限公司;
- 發明人樊仲維;邱基斯;唐熊忻;張晶;張國新;
- 地址100192 北京市海淀區西小口路66號東升科技園北領地C區7號樓二層
- 申請號CN201010605703.9
- 申請時間2010年12月27日
- 申請公布號CN102486435B
- 申請公布時間2014年03月12日
- 分類號G01M11/02(2006.01)I;
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