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          一種光學定位測量系統

            摘要:本實用新型公開了一種光學定位測量系統,包括激光、顯微物鏡、準直透鏡、反射片、載物臺、反射鏡、基準反射鏡、會聚成像透鏡組、檢測器、數據處理器和計算機,所述激光的輸出端依次穿過所述顯微物鏡和所述準直透鏡射向所述反射片,所述反射片的光源射向所述反射鏡,所述反射鏡安裝于所述載物臺上,位于所述反射片的一側,所述基準反射鏡位于所述會聚成像透鏡組,所述檢測器安裝于所述會聚成像透鏡組的上方,所述檢測器的信號輸出端與所述數據處理器的信號輸入端連接,所述數據處理器的信號輸出端與所述計算機的信號輸入端連接。本實用新型設計一種結構簡單的光學定位測量系統,可以通過測量將結果反饋到計算機上顯示,替換了原有的測量裝置,其性能較為穩定,使用壽命較長。
          • 專利類型實用新型
          • 申請人北京普瑞微納科技有限公司;
          • 發明人雷楓;李少博;問孝明;
          • 地址100080 北京市海淀區中關村東路95號8號樓415室
          • 申請號CN201420114485.2
          • 申請時間2014年03月14日
          • 申請公布號CN204043683U
          • 申請公布時間2014年12月24日
          • 分類號G01D5/26(2006.01)I;
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