摘要：本實用新型公開了一種無源RFID電子標簽卡諧振頻點測試裝置，包括殼體，殼體內封裝有增益匹配網絡、諧振電路和載波檢波電路，殼體的頂部設置有測試平臺，其結構簡單，架構合理，成本低，測試精度高，可以分別測試LF頻段和HF頻段的RFID電子標簽卡，能夠替代價格高昂的進口專業設備，適合RFID電子標簽卡頻點測試的各種場合使用，完全可以滿足RFID電子標簽卡生產封裝廠商在生產線上大批量對RFID電子標簽卡進行頻率檢測的要求，從而保證了RFID電子標簽卡的質量，有效提高了生產效率和產品競爭力，為非接觸RFID電子標簽卡的研發和生產線檢測提供了有力的技術保障。
- 專利類型實用新型
- 申請人中山達華智能科技股份有限公司;
- 發明人蔡凡弟;任金泉;孫洋;
- 地址524815 廣東省中山市小欖鎮泰豐工業區水怡南路9號
- 申請號CN201020656144.X
- 申請時間2010年12月08日
- 申請公布號CN202013379U
- 申請公布時間2011年10月19日
- 分類號G01R23/02(2006.01)I;G06K7/00(2006.01)I;
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