摘要：本發明公開了一種基于高深寬比納米陣列探測微振動的方法，屬于微振檢測領域。該方法是：激光器經過光束整形后，從側面入射到高深寬比納米陣列，在另一側形成明暗相間的衍射條紋；當高深寬比柱陣列感受到外界振動時，會發生同步搖晃振動，導致衍射條紋隨之發生變化；讀取衍射條紋±1級的運動軌跡，得到衍射條紋的變化角度θ，根據理論力學與材料力學的相關知識，推導出外界載荷p與角度θ之間的關系，從而通過檢測衍射條紋變化角度θ實現測量外界微小振動載荷的目的。本發明結構簡單，易于實現系統集成。同時，與現有探測方式相比，避免微小電信號的檢測難度，提高探測系統的精度。
- 專利類型發明專利
- 申請人西北工業大學;
- 發明人馬志波;苑偉政;姜澄宇;喬大勇;孟海莎;
- 地址710072 陜西省西安市友誼西路127號
- 申請號CN201510125375.5
- 申請時間2015年03月20日
- 申請公布號CN104764521A
- 申請公布時間2015年07月08日
- 分類號G01H11/02(2006.01)I;
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