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          質譜儀一級真空結構

            摘要:本發明公開了一種質譜儀一級真空結構,包括內有進樣腔室的進樣錐、安裝在進樣錐后側且前端伸入進樣腔室并內有聚焦腔室的聚焦環、安裝在聚焦環后側且前端伸入所述聚焦腔室并內有截取腔室的截取錐以及支撐部件,進樣腔室與聚焦腔室以及截取腔室依次連通且進樣錐安裝在支撐部件前端,聚焦環和截取錐安裝在支撐部件內部,支撐部件的周邊具有對稱設置且連通內部腔室的排氣出口;本發明設計四周對稱的排出口,并且使排出口的設計盡可能的靠近截取錐的后側,同時進一步在聚焦環的后側設計與排氣口相通的通道,不僅使得流體流動穩定,并進一步延長了有效離子的運動路程,如此可以保存更多的被測樣品,進一步提高測試結果的靈敏度。
          • 專利類型發明專利
          • 申請人江蘇天瑞儀器股份有限公司;
          • 發明人劉召貴;張軼鳴;謝文沛;潘翔;章凱;周立;
          • 地址215347 江蘇省蘇州市昆山市玉山鎮中華園西路1888號天瑞產業園
          • 申請號CN201510084542.6
          • 申請時間2015年02月16日
          • 申請公布號CN104637773B
          • 申請公布時間2017年03月01日
          • 分類號H01J49/02(2006.01)I;
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