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          一種二維輪廓形狀的測量方法及測量裝置

            摘要:本發明公開一種不依賴坐標的二維輪廓形狀的測量方法及測量裝置,根據本發明,首先通過基于該測量方法實現的測量裝置與物體之間的相對運動測得輪廓各處的累積弧長及近似曲率之間的關系數據,然后根據所測量的關系數據重構出物體的二維輪廓形狀。本發明提出了一種不依賴坐標的測量方法及測量裝置,使得被測對象的尺寸不受測量裝置自身的量程限制,并且在二維輪廓形狀測量中,更加方便快捷。
          • 專利類型發明專利
          • 申請人華中科技大學;武漢華中數控股份有限公司;
          • 發明人周會成;任清榮;吳衛東;宋寶;唐小琦;仰敬;黃東兆;
          • 地址430074 湖北省武漢市洪山區珞瑜路1037號
          • 申請號CN200910273162.1
          • 申請時間2009年12月09日
          • 申請公布號CN101750031A
          • 申請公布時間2010年06月23日
          • 分類號G01B11/24(2006.01)I;
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