QUANTUM量子科學儀器貿易（北京）有限公司

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產品總數：213

晶圓超快三維磁場探針臺

簡介:IBEX-300晶圓超快三維磁場探針臺法國Hprobe公司于2017年3月在法國格勒諾布爾地區成立，旨在為集成電路領域提供快速、準確和靈活的測試設備，主要應用方向為磁隨機存取存儲器(MRAM)。MRAM技術作為芯片上系統嵌入式內存(SoC)的替代技術，越來越多的微電子行業的主要廠商對MRAM技術感...

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品牌：Hprobe 圍觀：245次 產地：法國 產品詳情

高靈敏度材料氧化分析儀

簡介:高靈敏度材料氧化分析儀——化學發光分析系統日本TohukoElectronicIndustrial生產的高靈敏度材料氧化分析儀（CLA)是一種利用化學發光原理，探測光子化學發光的高性能儀器。超高的靈敏度使其能夠用于分析探測氧化反應、熱降解與光輻射所產生的其微弱的化學發光。而這些微弱的化學發...

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品牌：Tohuko Electronic Industrial 圍觀：233次 產地：日本 產品詳情

新一代高性能激光浮區法單晶爐

簡介:新一代高性能激光浮區法單晶爐-LFZQuantumDesignJapan公司推出的高溫光學浮區法單晶爐，采用鍍金雙面鏡、高反射曲面設計，高溫度可達2100℃-2200℃，系統采用冷卻節能設計（不需要額外冷卻系統），穩定的電源輸出保證了燈絲的恒定加熱功率......應用領域可廣泛用于凝聚態物理、化學...

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品牌：Quantum Design Japan 圍觀：307次 產地：日本 產品詳情

高壓氧氣氛退火爐

簡介:高壓氧氣氛退火爐產品簡介德國SciDre公司推出的高壓氧氣氛退火爐溫度可達850°C，壓力可達150個大氣壓?？捎糜诟邏壕w生長的料棒前處理。也可用于含氧晶體的高溫退火處理。爐體直徑15mm，長度200mm，溫度均勻。溫度、壓力可定制更高。應用領域可用于高壓晶體生長的料棒前處理。也...

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品牌：SciDre 圍觀：360次 產地：德國 產品詳情

微秒時間分辨超靈敏紅外光譜儀

簡介:微秒時間分辨超靈敏紅外光譜儀傳統光譜儀由于光源，測量方式等限制，需要幾秒鐘或者更長的測量時間來獲取一個完整的光譜。然而，生物醫學、化學動力學等許多過程都是發生在微秒的時間內，這些過程是傳統技術的光譜儀沒辦法觀察到。IRsweep公司推出的IRis-F1時間分辨快速雙光梳紅外...

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品牌：IRsweep 圍觀：534次 產地：瑞士 產品詳情

太赫茲近場光學顯微鏡 THz-NeaSNOM

簡介:太赫茲近場光學顯微鏡THz-NeaSNOM--30nm光學信號空間分辨率產品簡介：太赫茲（THz）光源波長較大，一般在300微米左右。由于衍射限的存在，THz遠場測量系統的光學空間分辨率一般被限制在150微米左右。該THz光遠場測量結果的準確度經常無法滿足對材料科學研究，尤其是需要納米分辨率...

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品牌：neaspec 圍觀：563次 產地：德國 產品詳情

大氣環境下熱電材料性能評估系統

簡介:大氣環境下熱電材料性能評估系統F-PEM產品介紹：大氣環境下熱電材料性能評估系統F-PEM可以在大氣環境下，對負荷溫差的熱電材料產生的發電量和熱流量進行測量，熱電轉換效率可以通過大發電量和熱流量計算出。同時，該系統還可以長時間運行熱循環測試，運用于熱電新材料的開發，以及...

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品牌：ADVANCE RIKO 圍觀：445次 產地：日本 產品詳情

皮米精度激光干涉儀IDS3010

簡介:皮米激光干涉儀德國attocube公司在皮米精度位移激光干涉儀FPS的基礎上，推出了體積更小、適合集成到工業產品與同步輻射應用中的IDS型號皮米精度位移激光干涉儀。與FPS型號干涉儀相似，IDS型號同樣適用于端環境如高真空與高輻射環境并且具有高精度與高采樣速率，是適合工業集成與工...

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品牌：attocube systems AG 圍觀：857次 產地：德國 產品詳情

高溫高壓光學浮區法單晶爐

簡介:高溫高壓光學浮區法單晶爐德國SciDre公司推出的高溫高壓光學浮區法單晶爐能夠提供2200–3000℃以上的生長溫度，晶體生長腔壓力可達300bar，甚至10-5mbar的高真空。適用于生長各種超導材料單晶，介電和磁性材料單晶，氧化物及金屬間化合物單晶等。應用領域適用于生長各種超導材料單...

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品牌：SciDre 圍觀：493次 產地：德國 產品詳情

芬蘭SPECIM高光譜相機系列

簡介:芬蘭SPECIM高光譜相機系列芬蘭SPECIM是上早提供商用高光譜分光器的制造商，至今已有二十余年高光譜產品的生產歷史。產品多樣，覆蓋范圍廣泛，包含工業高光譜相機、實驗室高光譜成像系統以及機載高光譜成像系統。產品涵蓋可見光到熱紅外全部波段，為用戶提供全面的高光譜成像解決方...

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品牌：SPECIM 圍觀：651次 產地：其他 產品詳情

全新壓電阻自感應懸臂梁AFM探針

簡介:全新壓電阻自感應懸臂梁AFM探針?——從此形貌探測無需激光SCL-Sensor.Tech公司成立于2004年，公司的主要業務是制造和銷售硅基壓電阻式自感應AFM探針。這種全壓電式懸臂，在AFM、納米、力測量等傳感應用領域都有全新的應用。我們的多學科團隊由物理、商業和金融、半導體和微電子學、...

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品牌：SCL 圍觀：674次 產地：其他 產品詳情

小型熱電轉換效率測量系統-Mini-PEM

簡介:產品介紹：小型熱電轉換效率測量系統Mini-PEM可測量熱電材料的產生的電量及熱電轉換效率η。熱電轉換效率η可以通過產生的電量和熱流來獲得(電量是通過四探針法獲得;熱流是通過熱流計獲得)。應用方向：+發電量和熱流量的測量;+計算熱電材料模塊的熱電轉換效率;+測量單一熱電材料發...

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品牌：ADVANCE RIKO 圍觀：476次 產地：日本 產品詳情

熱電轉換效率測量系統

簡介:熱電轉換效率測量系統PEM產品介紹：熱電轉換效率測量系統PEM被設計用來測定熱電轉換效率η。通過對熱電材料模塊提供大溫差500℃，可得到一維熱流量Q和大發電功率P，從而測定熱電轉換效率η。產品特點：+通過高精度的紅外線金面反射爐可完成快速性能評估和耐力測試;+上下表面能提供...

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品牌：ADVANCE RIKO 圍觀：438次 產地：日本 產品詳情

塞貝克系數/電阻測量系統

簡介:塞貝克系數/電阻測量系統ZEM——定量測量熱電材料的塞貝克系數和電阻產品介紹：塞貝克系數/電阻測量系統可實現對金屬或半導體材料的熱電性能的評估。作為ZEM的特點，塞貝克系數和電阻都可以用一種儀器來測量。產品特點：■擁有溫度控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器;■測...

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品牌：ADVANCE RIKO 圍觀：403次 產地：日本 產品詳情

芬蘭SPECIM IQ手持智能型高光譜相機

簡介:＊SPECIMIQ——reddotaward2018winner紅點設計獎2018獲獎者＊紅點設計獎——由德國設計協會創立，是國際公認的工業設計獎項之一，與德國iF獎、美國IDEA獎并稱為三大設計獎芬蘭SPECIM是上早提供商用高光譜分光器的制造商，至今已有二十余年高光譜產品的生產歷史。如今高光譜產品線包...

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品牌：SPECIM 圍觀：754次 產地：其他 產品詳情

掃描電鏡專用原位AFM探測系統

簡介:掃描電鏡專用原位AFM探測系統AFSEMTM—使AFM和SEM合二為一奧地利GETec公司發布的AFSEM是一款緊湊型，適用于真空環境的AFM產品，能夠輕松地結合兩種強大的分析技術—AFM和SEM為一體，大地擴展SEM樣品成像和分析能力。AFSEM技術與SEM技術的結合，使得人們對微觀和納米新探索新發現成...

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品牌：GETec Microscopy 圍觀：484次 產地：其他 產品詳情

連續退火實驗與模擬系統

簡介:連續退火實驗與模擬系統可以對鋼板進行快速以及快速冷卻實驗及模擬產品介紹連續退火實驗與模擬系統CAS-AYⅡ使用快速加熱和氣體/霧冷功能的紅外金面反射爐實現快速加熱和冷卻。這個系統可以地實現鋼鐵材料熱處理過程的模擬，可以實現鋼板,不銹鋼板,和磁性鋼板等的通用熱處理實驗以及...

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品牌：ADVANCE RIKO 圍觀：309次 產地：日本 產品詳情

高溫微觀組織觀察系統

簡介:高溫微觀組織觀察系統——在加熱或者冷卻過程中觀察鋼鐵表面的微觀組織變化高溫微觀組織觀察系統由三部分：顯微鏡，紅外金面反射爐以及溫度控制系統組成，可以在溫度控制的前提下，將樣品加熱到1600℃，從而觀察金屬材料的晶體轉變，沉淀析出，凝固等微觀組織變化。型號：TMS-E1S特...

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品牌：ADVANCE RIKO 圍觀：249次 產地：日本 產品詳情

自動相變點測量系統

簡介:自動相變點測量系統——輕松獲得相變點和生成CCT圖日本ADVANCERIKO公司的自動相變點測量系統可以在室溫到高1350℃之間對金屬樣品進行快速加熱和冷卻，在加熱和冷卻的過程中通過對熱膨脹和收縮的測量，從而自動得到相變點。在0℃以下的情況，使用液氮進行冷卻，從而得到0℃到-150℃...

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品牌：ADVANCE RIKO 圍觀：215次 產地：日本 產品詳情

超高溫高速退火爐

簡介:超高溫高速退火爐在10s內將15mm15mm的試樣加熱到1800℃產品介紹這款桌面式超高溫高速退火爐以大功率點聚焦加熱以及超高反射效率可以在10s內將15mm15mm的試樣加熱到1800℃，對SiC以及其它高熔點材料進行退火處理。應用SiC氧化膜的生成和；半導體開發與研究；玻璃基板、陶瓷、復合材...

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品牌：ADVANCE RIKO 圍觀：209次 產地：日本 產品詳情

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