塞貝克系數/電阻測量系統ZEM
——定量測量熱電材料的塞貝克系數和電阻
產品介紹：
塞貝克系數/電阻測量系統可實現對金屬或半導體材料的熱電性能的評估。作為ZEM的特點，塞貝克系數和電阻都可以用一種儀器來測量。
產品特點：
■ 擁有溫度控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器;
■ 測量是由計算機控制的，并且能夠在指定的溫度下執行測量，并允許自動測量消除背底電動勢;
■ 歐姆接觸自動檢測功能(V-I圖);
■ 可以用適配器來測量薄膜;
■ 可定制高阻型。
產品結構：
樣品腔部分：
工作原理圖：
應用方向：
對于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。
可選功能：
1. 薄膜測量選件
2.低溫選件(溫度范圍-100℃到200℃)
3.高阻選件(高到10MΩ;)
參數配置：
型號 | ZEM-3M8 | ZEM-3M10 |
溫度范圍 | 50-800℃ | 50-1000℃ |
樣品大小 | 方形2-4mm*6-22mmL 或者 圓形Φ2-4mm*6-22mmL | |
加熱方式 | 紅外加熱 | |
氣氛 | 高純氦氣（99.999%） | |
樣品溫差 | MAX.50℃ | |
測量方式 | 電腦全自動測量 | |
附：
熱電材料/器件測試設備
熱電材料測試設備 | 熱電轉換效率測試設備 |
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測試數據
燒結P型Si80Ge20塞貝克系數及電阻率測量結果
發表文章
1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945
2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407
3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114
4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810
5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.
用戶單位
清華大學
中國科學技術大學
上海交通大學
復旦大學
南方科技大學
武漢理工大學
中國科學院上海硅酸鹽研究所
中國科學院大連化學物理研究所
