摘要：本實用新型公開一種高精尖X熒光測厚儀，包括工作臺、工作臺控制板、X射線發生裝置、攝像頭、探測器、總控制面板，還包括X軸伺服面板、Y軸伺服面板、Z軸伺服面板、照明機構、定位機構、門控板、計算機，所述X射線發生裝置包括光管、高壓包和準直器，所述探測器包括小高壓包、主放板、多道板，探測器，電致冷，無需液氮。高效X射線發生裝置，大大提高了檢測效率和工作效率，并且控制安全易操作，自動化程度高，測厚范圍大，應用范圍廣，可以做合金材料及重金屬微量成分分析，鍍液主鹽以及微量雜質分析。
- 專利類型實用新型
- 申請人上海優特化工有限公司;
- 發明人宋涵華;
- 地址201800 上海市嘉定區迎園路400號
- 申請號CN201320846119.1
- 申請時間2013年12月20日
- 申請公布號CN203704889U
- 申請公布時間2014年07月09日
- 分類號G01B15/02(2006.01)I;
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