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          一種使用X射線熒光光譜儀測量鍍層的裝置
          
                
          
                
          
                    
          　　摘要：本實用新型提供一種使用X射線熒光光譜儀測量鍍層的裝置，包括高壓發生器、X射線管、準直器、鏡片、攝像頭、探測器、多道板、計算機，高壓發生器連接X射線管，X射線管連接準直器，探測器連接多道板，多道板連接計算機。
          
                    
                    
            
                        
          • 專利類型實用新型
            • 
                        
          • 申請人上海優特化工有限公司;
            • 
                        
          • 發明人宋涵華;
            • 
                        
          • 地址201822上海市嘉定區迎園路400號
            • 
                        
          • 申請號CN200920072300.5
            • 
                        
          • 申請時間2009年05月15日
            • 
                        
          • 申請公布號CN201434851Y
            • 
                        
          • 申請公布時間2010年03月31日
            • 
                        
          • 分類號G01N23/223(2006.01)I;
            • 
                    
          
                
          
            
          
            
          
                
            
          
        
          
        


    
          

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