摘要：本發明提供一種使用X射線熒光光譜儀測量鍍層的裝置，包括高壓發生器、X射線管、準直器、鏡片、攝像頭、探測器、多道板、計算機，高壓發生器連接X射線管，給X射線管提供高電壓，X射線管連接準直器，由探測器探測樣品反射的X射線，將電信號轉換為電脈沖，由放大器MCA放大，放大后的信號傳送到多道板，由多道板形成通訊信號傳送到計算機處理。方法包括(1)產生高壓；(2)在X射線管中，電子的動能主要轉化為初級輻射；(3)采用不同大小和形狀的準直器；(4)探測器窗口接收X熒光；(5)采用充滿氙氣的比例計數器；(6)放大器的信號傳輸到計算機中；(7)數據和樣品的圖像由顯示器顯示。
- 專利類型發明專利
- 申請人上海優特化工有限公司;
- 發明人宋涵華;
- 地址201822 上海市嘉定區迎園路400號
- 申請號CN200910051303.5
- 申請時間2009年05月15日
- 申請公布號CN101887038A
- 申請公布時間2010年11月17日
- 分類號G01N23/223(2006.01)I;
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