摘要：本實用新型涉及一種鍍層厚度測量裝置，其包括：X射線管，與高壓電源相連接，發射出X射線，所述X射線的發射方向向上；準直器，設置在所述X射線管與被測物質之間；射線安全聯鎖機構，設置在X射線管與準直器之間；射線檢測器，接收X射線照射到被測物質后發出的熒光信號，并轉化為電信號；前置放大器、主放大器、多道分析器與中央控制電路順序連接；計算機，與所述中央控制電路相連接，接收所述中央控制電路采集的電信號并進行數據處理與計算，獲得被測物質的測量結果。本實用新型采用下照式檢測結構，測量時只需要將被測物質的被測面朝下放置在檢測臺上即可，從而使儀器結構簡單，使用方便。
- 專利類型實用新型
- 申請人北京時代之峰科技有限公司;
- 發明人崔厚欣;吳速;楊長江;高會娟;劉大亮;
- 地址100085 北京市海淀區上地西路28號
- 申請號CN201020639594.8
- 申請時間2010年12月02日
- 申請公布號CN201876248U
- 申請公布時間2011年06月22日
- 分類號G01B15/02(2006.01)I;
教育裝備采購網在線客服
京公網安備11010802043465號
