摘要:本實用新型涉及一種包含電子轟擊離子源和化學離子源的質譜儀離子源的燈絲熱輻射屏蔽裝置,包括有燈絲,還包括有屏蔽室,所述屏蔽室包覆在燈絲外周。本實用新型使離子源內部的溫度均衡,減弱了溫度對離子源內部電場的影響,有利于提高活性化合物的信號響應。
- 專利類型實用新型
- 申請人北京普析通用儀器有限責任公司;
- 發明人王傳博;張洪剛;
- 地址101200 北京市平谷區平三路3號
- 申請號CN200920278319.5
- 申請時間2009年12月22日
- 申請公布號CN201584397U
- 申請公布時間2010年09月15日
- 分類號H01J49/10(2006.01)I;