摘要：本實用新型公開了一種全波段的CCD檢測器性能評價裝置，該裝置包括紫外可見段分光檢測系統、CCD檢測器數據采集系統以及CCD檢測器性能評價系統；所述紫外可見段分光檢測系統通過CCD檢測器數據采集系統與CCD檢測器性能評價系統相接。本實用新型提供了一套廉價、輕便、快速、全波段的CCD檢測器性能評價裝置，使得CCD檢測器性能評價變得簡單快速和全面，且更有利于CCD在光譜儀器中的應用。
- 專利類型實用新型
- 申請人上海光譜儀器有限公司;
- 發明人陳建鋼;劉志高;王曉慶;
- 地址201709 上海市青浦區白鶴鎮工業園區4小區第4幢24號
- 申請號CN200920209378.7
- 申請時間2009年09月08日
- 申請公布號CN201476956U
- 申請公布時間2010年05月19日
- 分類號G01M11/02(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I;
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