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紫外可見分光光度計
摘要:
專利類型
外觀專利
申請人
上海光譜儀器有限公司;
發明人
陳建鋼;
地址
200233上海市宜山路705號科技大廈C座10樓
申請號
CN03330725.3
申請時間
2003年05月16日
申請公布號
CN3338891D
申請公布時間
2003年12月03日
分類號
10-04;
該申請人其他專利(共77)
一種微型全分析系統芯片高度定位方法
一種光譜儀雜散光自動檢測和動態扣除的方法及光譜儀器
一種石墨管保護套置于磁場內的塞曼石墨爐結構
一種可拆卸的交流塞曼石墨爐原子化器
一種高性能脈沖氙燈比例監視雙光束紫外可見分光光度計
一種微型全分析系統芯片高度定位方法
一種全波段的CCD檢測器性能評價裝置
一種光學參數絕對值測量儀及其測量方法
雙光束紫外可見分光光度計
一種脈沖輻射檢測電路
該分類其它專利(共685)
IC卡干電池超聲波熱量表
50米跑測試儀
pH計(PHS-3C)
半球積分球測量裝置
崩解儀(三杯)
筆形萬用表(MS8213)
測距儀
波長色散X射線熒光光譜儀(WDX400)
背力測試儀
表面污染測量儀
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