摘要：本發明公開了一種采用超聲波快捷測定單晶材料的方法，利用超聲波穿過待測試樣，再采集穿過試樣后的底面回波，通過顯示屏顯示底面回波的波形，如果顯示的波形在底面回波前出現比底面回波小的雜波，則確定待測試樣為非單晶材料；反之則確定待測試樣為單晶材料。本發明采用超聲波穿過待測產品，通過觀察超聲波的反射波形，即可判斷材料是否為單晶材料，這樣便可顯著提高現場產品檢測效率，是一種經濟適用的檢測方法。本發明簡單快捷、經濟適用、檢測效率高。
- 專利類型發明專利
- 申請人貴州大學;
- 發明人孫捷;王芹;黃碧芳;朱紹嚴;袁春;
- 地址550025 貴州省貴陽市花溪區貴州大學北校區科學技術處
- 申請號CN201510962768.1
- 申請時間2015年12月21日
- 申請公布號CN105548357A
- 申請公布時間2016年05月04日
- 分類號G01N29/04(2006.01)I;
教育裝備采購網在線客服
京公網安備11010802043465號
