摘要：本發明公開了一種極高分辨率光譜測量裝置及方法，光譜測量裝置包括FP干涉儀、SBS濾波器、探測器、數據采集模塊和控制模塊；FP干涉儀的第一輸入端用于連接待測信號，FP干涉儀的第二輸入端連接至控制模塊的第一輸出端；SBS濾波器的第一輸入端連接至FP干涉儀的輸出端，所述SBS濾波器的第二輸入端連接至控制模塊的第二輸出端，探測器的輸入端連接至SBS濾波器的第一輸出端，數據采集模塊的第一輸入端連接至探測器的輸出端，數據采集模塊的第二輸入端連接至SBS濾波器的第二輸出端，控制模塊的輸入輸出端連接至數據采集模塊的輸出輸入端。本發明可以提高光譜測量分辨率的同時獲得比現有FP干涉儀更大的測量范圍。
- 專利類型發明專利
- 申請人華中科技大學;
- 發明人柯昌劍;譚芷瑩;羅志祥;劉德明;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區珞喻路1037號
- 申請號CN201510107118.9
- 申請時間2015年03月11日
- 申請公布號CN104697634B
- 申請公布時間2017年03月15日
- 分類號G01J3/45(2006.01)I;
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