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          鍍鎳層內應力長度變化測量法
          
                
          
                
          
                    
          　　摘要：本發明公開了一種快速簡便的鍍鎳層內應力長度變化測量法，本發明提供的鍍鎳層內應力測量方法，能夠快速有效地測量出鍍鎳層內應力，其方法操作簡單，設計合理，流程簡便，涉及的設備簡易，測量精度高。
          
                    
                    
            
                        
          • 專利類型發明專利
            • 
                        
          • 申請人蘇州精創光學儀器有限公司;
            • 
                        
          • 發明人尚修鑫;
            • 
                        
          • 地址215300 江蘇省蘇州市昆山市開發區章基路189號
            • 
                        
          • 申請號CN201410609295.2
            • 
                        
          • 申請時間2014年11月04日
            • 
                        
          • 申請公布號CN104280156A
            • 
                        
          • 申請公布時間2015年01月14日
            • 
                        
          • 分類號G01L1/00(2006.01)I;
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