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          一種光學元件反射率檢測儀

            摘要:本實用新型公開了一種光學元件反射率檢測儀,包括一光源,將所述光源發出的光線變為平行光的第一聚光鏡,與第一聚光鏡透過光線成45°夾角設置有半透半反鏡,該半透半反鏡的上方平行設置有一分光鏡,該分光鏡的上方設置有一接收分光鏡透過光線的電子目鏡,所述半透半反鏡的下方設置有一將該半透半反鏡反射的光線聚焦的物鏡,所述物鏡下方的焦點處設有一三維樣品調節臺,還包括一將所述分光鏡反射光線聚焦的第二聚光鏡,接收透過所述第二聚光鏡的光信號的光譜儀。本檢測儀不僅操作方便,而且能夠準確檢測球面光學元件的反射率,廣泛適用于光學檢測領域。
          • 專利類型實用新型
          • 申請人廣州標旗電子科技有限公司;
          • 發明人宋光均;吳劍峰;鄭祥利;
          • 地址510640 廣東省廣州市天河區金穎路1號金穎大廈1711室
          • 申請號CN201120508430.6
          • 申請時間2011年12月08日
          • 申請公布號CN202393582U
          • 申請公布時間2012年08月22日
          • 分類號G01M11/02(2006.01)I;
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