摘要：本發明公開了一種電容測量電路的校準方法，適用于對采用容抗法的電容測量電路的校準，包括：A、記錄若干已知電容對應的AD采集值，分別求各已知電容的AD采集值與基準電容的AD采集值之間的差值；B、以所述各已知電容值和對應的所述差值構建該電容測量電路的輸入輸出特性方程；C、在實際環境中獲取被測電容和基準電容的AD采集值，將它們的差值代入輸入輸出特性方程，得到被測電容值。采用本發明方法能夠有效減小環境溫濕度變化帶來的隨機電容測量誤差。本發明還相應公開了一種電容測量電路的校準裝置，包括輸入輸出特性方程構建模塊和電容實際測量模塊。
- 專利類型發明專利
- 申請人北京航天測控技術開發公司;
- 發明人蘇建軍;蔄元臣;朱紅;陳斐;郇黎明;
- 地址100041 北京市石景山區實興東街3號
- 申請號CN201010546870.0
- 申請時間2010年11月16日
- 申請公布號CN102096057A
- 申請公布時間2011年06月15日
- 分類號G01R35/00(2006.01)I;G01R27/26(2006.01)I;
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