摘要：本發明公開了一種基于IEEE1149.4的模擬電壓監測方法，包括：將符合IEEE1149.4標準的芯片按照電路板設計的邊界掃描鏈路構建方式接入電路板的邊界掃描鏈；將電路板中的檢測點電壓信號連接到所述芯片上具有模擬邊界模塊ABM的引腳上；將芯片的功能引腳AT2連接到邊緣連接器的輸出端口；電壓監測時，設置所述芯片中當前檢測點對應的ABM處于P1模式，即引腳狀態由AB2總線監測，其他ABM處于P0模式；設置測試總線接口電路TBIC處于P1或P3模式，即將AB2總線連接到AT2上；通過AT2引腳觀測檢測點電壓。使用本發明能夠在不增加過多連線和器件的情況下，實現較多測試點的模擬電壓檢測。
- 專利類型發明專利
- 申請人北京航天測控技術開發公司;
- 發明人杜影;徐鵬程;王石記;安佰岳;
- 地址100041 北京市石景山區實興東街3號
- 申請號CN201010620842.9
- 申請時間2010年12月24日
- 申請公布號CN102129024A
- 申請公布時間2011年07月20日
- 分類號G01R31/28(2006.01)I;G01R31/3185(2006.01)I;
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