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數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美A.S.T.M標準而的，用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的用儀器。儀器由主...

2019-01-07 圍觀406次 [應用] 高教

恒奧德本月回饋老客戶惠儀器四探針測試儀數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美A.S.T.M標準而設計的，用于測試半導體材料電...

2017-11-02 圍觀415次 [簡訊] 職教

方塊電阻的簡介以及影響探頭法測試方阻度的因素:簡介Sheetresistance蒸發鋁膜、導電漆膜、印制電路板銅箔膜等薄膜狀導電材料，衡量它們厚度的好方法就是測試它們的方阻。什么是方阻呢?方阻就是方...

2016-11-07 圍觀2499次 [維修] 職教

2016-03-28 圍觀258次 [應用] 全領域

低阻型四探針檢測儀/方阻儀/四探針電阻率檢測儀型號;DP-KDY-1儀器采用GB/T1552-1995硅、鍺單晶電阻率測定直排四探針法（2）范圍：電阻率10-5～10+3歐姆·厘米，分辨率為10-5歐姆·厘米方塊電阻1...

2016-03-18 圍觀360次 [應用] 全領域

方塊電阻測試儀/電阻測試儀?方塊電阻測試儀是種依照類似的家標準和美A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄...

2015-04-24 圍觀205次 [應用] 全領域

RTS-8型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美A.S.T.M標準而的，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。

2015-03-14 圍觀190次 [應用] 全領域

儀器采用GB/T1552-1995硅、鍺單晶電阻率測定直排四探針法(2)范圍：電阻率10-5～10+3歐姆·厘米，分辨率為10-5歐姆·厘米方塊電阻10-4～10+4歐姆/□，小分辨率為10-4歐姆/□...

2014-10-22 圍觀1304次 [原理] 全領域

HAD-WSP-51數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導...

2014-09-03 圍觀1330次 [導購] 職教