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          極片表面電阻測量系統

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          中科微納
          ZKJPD-I
          北京中科微納精密儀器有限公司
          高教 職教
          北京 延慶區
          詳細說明

          多功能極片電阻測量系統

          ZKJPD-I

            產品概述:

            電池極片中,影響電導率的主要因素包括箔基材與涂層的結合界面情況,導電劑分布狀態,顆粒之間的接觸狀態等;通過電池極片的電導率能夠判斷極片電阻中微觀結構的均勻性,預測電池的性能。同時鋰離子電池極片電阻是影響電池內阻、電壓以及自動放電率的重要因素。

            目前測試極片電阻的方法有四探針法和兩探針法,四探針法和兩探針法都無法對被測物體表面施加壓力,且極片的表面涂層由顆粒組成,與探針的接觸面積小,只測量了電阻兩端的電壓值和電流值,故探針無法全面表征極片電阻。

            無論是四探針法還是兩探針法都只能表征表面薄層的電阻(即只能用于測量被測物表面的薄層電阻),對于較厚且存在成分梯度電池涂層無法全面表征極片的電阻值,另外,它也不能測試真實極片中涂層與基材之間的接觸電阻。四探針測試法僅測量非導電基材極片,且與測試極片接觸點面積小,極片顆粒大,數據無參考意義。

            本公司所研發的極片電阻測試儀可以對電池極片施加可變壓力,可對壓力值、極片電阻值和厚度變化值進行即時測量,并建立二次電池極片的受壓、延展與電阻的變化關系    

            通過對極片施加不同壓強,可以使極片表面的涂層顆粒產生不同程度的形變,從而改變極片的導電性能。通過測量數據可以分析不同壓強下極片的阻值特性,從而對改良極片提供數據參考。

            本儀器極片電阻測試儀,測試極片電阻阻值時,電流從極片電阻的端面穿過,使得對極片電阻電阻測量更加精確。

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