方塊電阻的簡介以及影響探頭法測試方阻度的因素:
簡介
Sheet resistance
蒸發鋁膜、導電漆膜、印制電路板銅箔膜等薄膜狀導電材料，衡量它們厚度的好方法就是測試它們的方阻。什么是方阻呢?方阻就是方塊電阻，個正方形的薄膜導電材料邊到邊"之"間的電阻，如圖所示，即B邊到C邊的電阻值。
方塊電阻又稱膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值，該數值大小可直接換算為熱紅外輻射率。方塊電阻的大小與樣品尺寸無關，其單位為Siements/sq，后增加歐姆/sq表征方式，該單位直接翻譯為方塊電阻或者面電阻，用于膜層測量又稱為膜層電阻。
影響探頭法測試方阻度的因素:
(1)要求探頭邊緣到材料邊緣的距離大大于探針間距，般要求10倍以上。
(2)要求探針頭之間的距離相等，否則就要產生等比例測試誤差。
(3)理論上講探針頭與導電薄膜接觸的點越小越好。但實際應用時，因針狀電容易破壞被測試的導電薄膜材料，所以般采用圓形探針頭。
后談談實際應用中存在的問題
1、如果被測導電薄膜材料表面上不干凈，存在油污或材料暴露在空氣中時間過長，形成氧化層，會影響測試穩定性和測試度。在測試中需要引起注意。
2、如探頭的探針存在油污等也會引起測試不穩，此時可以把探頭在干凈的白紙上滑動幾下擦擦可以了。
3、如果材料是蒸發鋁膜等，蒸發的厚度又太薄的話，形成的鋁膜不能均勻的連成片，而是形成點狀分布，此時方塊電阻值會大大增加，與通過稱重法計算的厚度和方阻值不樣，因此，此時就要考慮到加入修正系數。
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