【全反射X射線熒光光譜儀】
功能作用介紹：
全反射X射線熒光光譜儀由杭州電子科技大學材料與環境工程學院季振國、席俊華與北京普析通用儀器有限責任公司共同合作設計制造，能夠定性、定量的檢測樣品中的元素成分。不同于普通X射線熒光光譜儀，本儀器利用X射線的全反射性質，在全反射狀態下進行X射線熒光分析，從而消除樣品襯底的影響，對薄膜樣品的元素分析有得天獨厚的優勢。
技術參數：
l 最低絕對檢出限：pg級;
l 最低相對檢出限：ng/mL級;
l 同時分析元素數量：近30種;
l 分辨率：小于175eV;
l 測量元素范圍：可以從11號元素Na到92號元素U。
作品名稱：全反射X射線熒光光譜儀
完成單位：杭州電子科技大學、北京普析通用儀器有限責任公司
