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產品總數：1583
可攜帶臺式分析檢測儀Innov-X X-50
簡介:XRF的革命延續到了早期的制造商針對現場XRF分析的便攜式的XRF：X-50移動式XRF。X-50獨特的輕便設計可以滿足迅速增長的對于臺式機分析能力的需要，X-50移動式XRF提供了在小型XRF手持式XRF不可能擁有的大功率和高性能。在達25次的手持式XRF測試中，作為一種技術等級的XRF，X-50達到了...
￥9870
Lab-X3500SCl(X射線熒光光譜儀)
簡介:Lab-X3500SCl利用新技術測量油品中的硫下限低至3ppm(mg/kg)，主要特點有：容易檢測低含量硫、氯出廠前校準，用戶使用前無需再校準無需氦氣安裝簡單，只需系統供電操作不受周圍環境變化影響樣品溫度不會影響檢測結果Lab-X3500SCl符合下列標準規格：ISO20847,ISO8754,ASTMD4294和IP3...
￥380
Lab-X3500SCl(X射線熒光光譜儀)
簡介:Lab-X3500SCl利用新技術測量油品中的硫下限低至3ppm(mg/kg)，主要特點有：容易檢測低含量硫、氯出廠前校準，用戶使用前無需再校準無需氦氣安裝簡單，只需系統供電操作不受周圍環境變化影響樣品溫度不會影響檢測結果Lab-X3500SCl符合下列標準規格：ISO20847,ISO8754,ASTMD4294和IP3...
￥380
Twin-X(X射線熒光光譜儀)
簡介:Twin-X結合了兩種已獲得廣泛應同的牛津探測器技術：FOCUS5+探測系統和PIN探測器技術。其輕便緊湊的一體化設計和空前的多用途與高性能，使其榮獲IBO(InstrumentBusinessOutlook)工業設計獎。兩種探測器技術的組合可以達到對元素周期表種中不同位置的元素更全面的檢測。其中FOCUS5+技...
￥380
X熒光鍍層測厚及痕量元素分析儀X-Strata980
簡介:X-Strata980結合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態探測器確保的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產品滿足環保...
￥380
RoHS分析儀X-MET3000TXR+
簡介:牛津儀器發布了新型號的X-Met3000TXR+手持式XRF光譜儀采用X射線管作為激發源；輕便、快捷；可實現快速、可靠的RoHS條例篩選分析；專門為測量塑料、焊料和印刷線路板中的重金屬含量而設計。牛津儀器的手持式X-Met3000TXR+是一款使用方便、安全可靠的無損分析工具，針對RoHS條例對塑...
￥3890
手持式X射線XRF元素分析儀熒光光譜儀X-MET5000
簡介:新款手持式X射線熒光光譜儀，可滿足各種苛刻的元素分析要求。牛津儀器宣布推出一款堅固的手持式X射線熒光光譜儀(XRF)，該儀器能夠進行高精度、高可靠性的元素分析。牛津儀器的手持式X射線熒光光譜儀譽滿，X-MET5000是其第四代產品。這款全新的光譜儀擁有高性能和高可靠性，它綜合了...
￥380
X射線熒光光譜儀Lab-X3500
簡介:Lab-X3000取得巨大成功的基礎上，牛津儀器公司推出型的臺式能量色散X射線熒光光譜儀Lab-X3500。它把牛津儀器多年來設計生產X射線熒光光譜儀的經驗和的硬件、軟件技術的進展結合起來，是一種獨特的、高性能的多元素臺式X射線熒光光譜儀。Lab-X3500中采用了牛津獨特的FOCUS5技術，實...
￥380
帶溫度補償功能的面銅測厚儀CMI-165
簡介:CMI165是一款人性化設計、堅固耐用的世界帶溫度補償功能的手持式銅箔測厚儀。-可測試高溫的PCB銅箔-顯示單位可為mils，m或oz-可用于銅箔的來料檢驗-可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試-可用于電鍍銅后的面銅厚度測試-配有SRP-T1，帶有溫度補償功能的面銅測試頭-可用于蝕刻后線路上的...
￥3890
便攜面銅厚度測試儀CMI563
簡介:CMI563表面銅厚測試儀專為測量剛性或柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設計。CMI563測厚儀采用微電阻測試技術，提供了準確和精確測量表面銅銅厚（包括覆銅板、化學銅和電鍍銅板）的方法。由于CMI563測厚儀采用了市場上為先進的測試技術，印刷電路板背面銅層不會對...
￥3890
PCB專用銅厚測試儀CMI760
簡介:CMI760測厚儀專為滿足印刷電路板行業銅厚測量和質量控制的需求而設計。CMI760測厚儀可用于測量表面銅和穿孔內銅厚度。這款高擴展性的臺式測厚儀系統采用微電阻和電渦流兩種方法來達到對表面銅和穿孔內銅厚度準確和精確的測量。CMI760臺式測厚儀具有非常高的多功能性和可擴展性，對...
￥3890
X熒光鍍層測厚儀CMI900
簡介:CMI900鍍層測厚儀特點：精度高、穩定性好強大的數據統計、處理功能測量范圍寬NIST認證的標準片服務及支持技術參數主要規格規格描述X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準75W(4-...
￥3890
X熒光鍍層測厚儀X-Strata960
簡介:X-Strata960測厚儀基于25年涂鍍層測量經驗，在CMI900系列測厚儀的堅實基礎上，引進全新的設計：新100瓦X射線管-市場上所能提供的強大的X射線管。提高30%測量精度，同時減少50%測量時間更小的X射線光斑尺寸-新增15mil直徑準直器，可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及...
￥380
X熒光鍍層測厚及痕量元素分析儀X-Strata980
簡介:X-Strata980結合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態探測器確保的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產品滿足環保...
￥380
OSP鍍層測厚儀OSPrey800
簡介:OSPrey800@儀器利用光譜分析原理無損檢測OSP鍍層厚度。無需準備樣品，可實時檢測實際產品上的OSP鍍層厚度。OSPrey800@儀器在檢測過程中不會對PCB/PWB板產生不利影響。通過進行PCB/PWB上OSP鍍層厚度的定量、完整性、可靠性及膜層形態的細致分析，進而檢驗OSP鍍層的應用可靠性。檢測...
￥380
X射線熒光光譜儀Lab-X3500
簡介:型的臺式能量色散X射線熒光光譜儀Lab-X3500。它把牛津儀器多年來設計生產X射線熒光光譜儀的經驗和的硬件、軟件技術的進展結合起來，是一種獨特的、高性能的多元素臺式X射線熒光光譜儀。Lab-X3500中采用了牛津獨特的FOCUS5技術，實現了對目標元素的激發和目標元素的選擇性檢測；因而...
￥380
便攜式涂層測厚儀CMI-150
簡介:雙功能技術的測厚儀，完成磁感應和電渦流測量自動轉換CMI150測厚儀應用雙功能測量技術，能夠自動識別磁性或非磁性底材，然后采用相應的測試方法，適用于各種測量環境。CMI150測厚儀可測量非磁性底材上的非導電性涂層和磁性底材上的非磁性涂層的厚度。測厚儀電渦流測試方法應用包括...
￥380
便攜式涂層測厚儀CMI-200
簡介:CMI200涂層測厚儀特點：測厚儀精度高、穩定性好強大的數據統計、處理功能232接口，可連接打印機或電腦可選配90度直角探頭帶有掃描測量模式測量范圍寬NIST認證的標準片技術參數小測量面積0～3000m(F)；0～2000m(N)誤差3%分辨率0.1um小曲率半徑5mm(凸)；25mm(凹)小測量面積20mm小基體...
￥380
臺式涂鍍層測厚儀CMI-700
簡介:CMI700測厚儀能同時為磁性基材上的非磁性涂/鍍層、導性基材上的非導性涂/鍍層，以及磁性基材上的電鍍鎳層提供高科技的無損涂鍍層厚度檢測。CMI700測厚儀所使用的大型帶背光的液晶顯示器，保證您能從任意角度以及較遠的距離輕松觀察到這臺測厚儀測量的數據和結果，并能在短的時間內...
￥380