CMI900鍍層測厚儀特點：
技術參數
主要規格
規格描述
X射線激發系統
垂直上照式X射線光學系統
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統
多可同時裝配6種規格的準直器
多種規格尺寸準直器任選：
－圓形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸
在12.7mm聚焦距離時，小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時，測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
樣品室
CMI900
CMI950
－樣品室結構
開槽式樣品室
開閉式樣品室
－樣品臺尺寸
610mm x 610mm
300mm x 300mm
－XY軸程控移動范圍
標準：152.4 x 177.8mm
還有5種規格任選
－Z軸程控移動高度
43.18mm
XYZ程控時，152.4mm
XY軸手動時，269.2mm
－XYZ三軸控制方式
多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
－樣品觀察系統
高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。
激光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計算機系統配置
IBM計算機
惠普或愛普生彩色噴墨打印機
分析應用軟件
操作系統：Windows2000中文平臺
分析軟件包：SmartLink FP軟件包
－測厚范圍
可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。
－基本分析功能
采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。
樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍：Ti22 – U92
可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測，如Au karat評價
材料和合金元素分析，
材料鑒別和分類檢測
液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
元素光譜定性分析
－調整和校正功能
系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移
－測量自動化功能
鼠標測量模式：“Point and Shoot”
多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式
測量位置預覽功能
激光對焦和自動對焦功能
－樣品臺程控功能
設定測量點
連續多點測量
測量位置預覽(圖表顯示)
－統計計算功能
平均值、標準偏差、相對標準偏差、值、小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
數據庫存儲功能
任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
－系統安全監測功能
Z軸保護傳感器
樣品室門開閉傳感器
操作系統多級密碼操作系統：操作員、分析員、工程師
