產品簡介:
可用于各類二極管(Diode)以及可控硅(SCR)的正向浪涌電流(IFSM)試驗,包括三極管(Triode)、MOSFTE、IGBT等全控器件的內置二極管的浪涌測試。
二極管元件在實際使用中,除了能長期通過額定通態平均電流外,還應能承受一定倍數的浪涌過載電流而不致損壞,以便適應在各種應用中的要求。二極管浪涌過載電流如果超過其允許范圍,輕者引起元件性能變壞(如伏安特性、通態峰值電壓的變化),重者造成燒毀穿通而失去反向阻斷能力。通過浪涌過載電流測試合格的器件,可以大大提高其在使用中的可靠性。
技術指標:
> 浪涌電流(IFSM/ITSM)調節范圍:0.30~3.60kA
> 分辨率0.01kA,精度±3%±0.01kA
> 電流波形:正弦半波,底寬10ms
> 測試頻率:單次
> 反向電壓(VRRM)調節范圍:0.20~2.00kV,分辨率0.01kV,精度±5%
> 反向電壓測試頻率:50Hz;
> 反漏電流(IRRM)測試范圍;1.0~100.0mA,分辨率0.1mA,精度±5%±0.1mA
工作方式:
> 由觸摸液晶屏設定浪涌電流大小、反向電壓值及反向漏電流保護值
> 按測試按鍵后設備自動完成測試
外形尺寸:
> 600×800×1900×1(寬×深×高×并柜數,單位:mm)
系統說明:
> 上述設備配置輸出及測試線,但不含測試用“夾具”。該“夾具”用于滿足元件按照標準進行測試時所要求的溫度和壓力測試條件。