探針臺主要應用于傳感器，半導體，光電，集成電路以及封裝的測試。廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。
探針移動平臺
X軸移動行程
30mm ±15mm
X軸控制精度
≤0.01mm
Y軸移動行程
13mm ±12.5mm
Y軸控制精度
≤0.01mm
Z軸移動行程
13mm ±12.5mm
Z軸控制精度
≤0.01mm
電子顯微鏡
該探針臺的承載臺為60x60不銹鋼臺面，臺面可升溫到400℃。真空腔體設計有進氣口和抽真空接口。探針臂為X/Y/Z三軸移動，三個方向均可在真空環境下精密移位調節，其中X方向調節范圍：0－30mm；y方向調節范圍：0－20mm；z方向調節范圍：0－20mm；用戶可根據需要自行調節。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上，再微調探針支架X/Y/Z 方向行程，通過顯微鏡觀察，使探針對準檢測點后，即可進行檢測
