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> 知識產權 > 專利 > CN301134139D
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波長色散X射線熒光光譜儀(WDX400)
摘要:
專利類型
外觀專利
申請人
江蘇天瑞儀器股份有限公司;
發明人
應 剛;唐勇剛;
地址
215347江蘇省昆山市葦城南路1666號清華科技園天瑞大廈
申請號
CN200830231141.X
申請時間
2008年09月22日
申請公布號
CN301134139D
申請公布時間
2010年02月10日
分類號
10-04;
該申請人其他專利(共385)
一種用于光譜檢測具有分度機構的晶體切換裝置
用于解析離子源進樣裝置的XY移動平臺
一種繪制區域顆粒物小時濃度分布圖的方法
一種單一準直食品重金屬檢測儀
一種礦漿壓力取樣器
一種用于光譜檢測晶體切換裝置
一種質譜儀用戶可調的檢測器信號處理部件
手持式X熒光光譜儀
一種X熒光光譜分析自動標定裝置
氣相質譜儀(MS5400)
該分類其它專利(共685)
IC卡干電池超聲波熱量表
50米跑測試儀
pH計(PHS-3C)
半球積分球測量裝置
崩解儀(三杯)
筆形萬用表(MS8213)
測距儀
背力測試儀
表面污染測量儀
測距儀
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