摘要：本實用新型涉及一種采用雙波長結構光測量物體輪廓的裝置，屬于光學測量技術領域。本裝置包括：投影儀，與計算機相連接，用于產生一束經正弦調制后的白光，照相機，與計算機相連接，用于拍攝在上述白光的照明光場中待測物體的圖像，照相機與投影儀的連線與所述的參考平面平行，投影儀和照相機與參考平面之間的距離為L，投影儀與照相機之間的距離為d，計算機，用于控制投影儀產生具有特定結構的白光，并接收照相機拍攝的圖像后進行處理。本實用新型的提出的裝置，可以測量表面形狀比已有技術更加復雜的物體，而且測量精度高于已有技術。
- 專利類型實用新型
- 申請人清華紫光股份有限公司;
- 發明人高宏;辛建波;
- 地址100084北京市海淀區清華園清華大學紫光大樓
- 申請號CN200520147052.8
- 申請時間2005年12月29日
- 申請公布號CN2856928Y
- 申請公布時間2007年01月10日
- 分類號G01B11/24(2006.01);G01B11/25(2006.01);
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